ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Um sistema de TC. Muitas aplicações.

Com o ZEISS METROTOM 1500, você obtém uma avançada tecnologia de TC - detectando falhas de forma confiável, capturando e medindo defeitos abaixo da superfície. O que torna esse CT diferente: Ele fornece imagens rápidas e de alta resolução para peças pequenas e grandes - e tudo o que estiver entre elas.

  • Escaneamento de alta velocidade
  • Qualidade detalhada da imagem de TC
  • Metrologia precisa (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Certificação DAkkS opcional
  • Compacta

Benefícios

Melhor qualidade de imagem
Melhor qualidade de imagem

Melhor qualidade de imagem

Alta resolução e precisão rastreável

O ZEISS METROTOM 1500 apresenta uma qualidade de imagem excepcional que retrata com clareza até mesmo pequenos defeitos. O software AMMAR, BHC e o módulo de hardware ZEISS scatterControl fazem a diferença para uma qualidade incontestável. Além disso, o CT é especificado de acordo com a diretriz VDI/VDE 2630 para precisão rastreável.

Graças ao alto nível de especialização em metrologia da ZEISS, que também é usado na tecnologia de TC, você pode confiar na alta precisão das medições. Um MPE (SD) de 4,5 + L/50 μm de acordo com a VDI/VDE 2630 Folha 1.3 é garantido em todo o campo de visão - para resultados de medição nos quais você pode confiar.

Versatilidade do sistema

Versatilidade do sistema

Adequado para uma grande variedade de peças e aplicações

O ZEISS METROTOM 1500 escaneia peças pequenas em altíssima resolução e peças de até 615 mm de diâmetro e 800 mm de altura como uma reconstrução completa. Isso é obtido com a expansão do campo de visão horizontal e vertical. Graças ao seu tubo flexível com um ponto focal de apenas alguns micrômetros de um lado e uma potência máxima de 500 W do outro, peças pequenas podem ser escaneadas com resolução muito alta e peças grandes podem ser escaneadas em um curto espaço de tempo. Isso torna o sistema ideal para muitas aplicações

Calibração DAkkS Sua porta de entrada para medições confiáveis

Calibração DAkkS

Sua porta de entrada para medições confiáveis

Padrões de qualidade mais altos nos setores automotivo, médico ou farmacêutico geralmente exigem a aplicação de procedimentos credenciados de inspeção por TC. Eles garantem uma medição objetiva e compatível com os padrões das peças, de acordo com a VDI/VDE 2630 Parte 1.3. A calibração DAkkS também está disponível para a série ZEISS METROTOM 1500 de tomógrafos computadorizados industriais. Beneficie-se do valor agregado: economize custos e crie mais confiança para seus clientes.

Design inteligente para espaço limitado

Design inteligente para espaço limitado

Uso mais eficiente do espaço

O tamanho comparativamente pequeno e a construção inteligente da porta para serviço e carregamento de peças permitem uma instalação flexível, possibilitando a instalação do CT em seu laboratório de medição, mesmo se o espaço for limitado. Para ajudá-lo a aproveitar ao máximo o espaço disponível, além disso, expandimos o volume de medição e reduzimos a área ocupada: Meça e inspecione peças de 870 mm de altura em um espaço de 3,7 x 1,8 metros - a melhor relação sistema/volume de peças disponível no mercado.

Inspecionar componentes completos

Inspecionar componentes completos

Ideal para peças de vários materiais

Com a tecnologia de medição tradicional, estruturas ocultas só podem ser inspecionadas após um lento processo de destruição do componente, camada por camada, que tem alto custo. O ZEISS METROTOM 1500, no entanto, é um sistema de tomografia computadorizada industrial para medir e inspecionar componentes completos feitos de plástico e/ou metal leve ou até mesmo cobre ou aço.

ZEISS scatterControl
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl

Qualidade excepcional de imagem de TC

A solução de hardware ZEISS scatterControl melhora significativamente a qualidade de imagem do ZEISS METROTOM 1500, reduzindo ao mínimo os artefatos de dispersão das tomografias computadorizadas. Isso facilita as etapas subsequentes de manuseio e avaliação de dados, resultando em uma determinação de superfície e análise de defeitos ainda mais precisas.

 Descubra mais benefícios do ZEISS METROTOM 1500.

Controle de qualidade à prova de futuro

Controle de qualidade à prova de futuro 
Meça e inspecione peças maiores

A terceira geração do ZEISS METROTOM 1500 permite medições de peças maiores em uma única reconstrução, graças a um volume de medição ampliado: Com o sistema de posicionamento recém-projetado, as peças com altura de até 870 mm se encaixam no CT sem a necessidade de serem reposicionadas.

Compacta

Para o transporte, a instalação, a manutenção ou o espaço consumido no laboratório do cliente, quanto menor o sistema, melhor. O design da cabine do maior sistema de TC industrial da ZEISS foi inteiramente dedicado ao uso eficiente do espaço, resultando em uma área ocupada de apenas 6,7m2.

Operação mais confortável

A porta frontal permite que o operador entre no sistema e a use como um ponto de acesso de serviço, o que torna o carregamento de componentes maiores e mais pesados mais conveniente. Isso permite que o usuário realize medições com CT de forma fácil, segura e precisa. Como o ZEISS METROTOM 1500 não precisa de espaço adicional significativo acima, atrás ou nas laterais, o sistema pode ser instalado de forma muito flexível.

Aplicações

  • Setor

    Setor

    Adequado para peças de metal leve, compostos, peças multimateriais, peças plásticas e manufatura aditiva.

  • Turbina aeroespacial

    Aeroespacial

    Adequado para o escaneamento confiável de, por exemplo, lâminas de titânio, aço ou compósitos para atender aos padrões do setor e aos requisitos de segurança.

  • Grampo de cabelo de motor automotivo

    Indústria automotiva

    Ideal para escanear trens de força, componentes do painel de instrumentos e peças fundidas de alumínio, como cabeçotes de cilindro ou carcaças de estator.

  • Tecnologia médica

    Tecnologia médica

    Escaneamento preciso de peças médicas, como injetores, implantes, inaladores ou marcapassos.

  • Placa-mãe eletrônica

    Eletrônicos

    Escaneia com segurança conectores, baterias, placas de circuito impresso e outros componentes elétricos.

  • ZEISS INSPECT X-Ray Análise abrangente de dados de TC em 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Análise abrangente de dados de CT em 3D

    O software de análise fácil de usar ZEISS INSPECT X-Ray permite a análise completa de dados de TC em 3D - automatizada ou personalizada e adequada até mesmo para iniciantes. Geometrias, furos de contração ou estruturas internas e montagens podem ser analisadas com precisão. Até mesmo pequenos defeitos tornam-se visíveis por meio de imagens seccionais individuais. Também é possível carregar dados de volume de vários componentes em um projeto, realizar uma análise de tendências e comparar os resultados com os dados de CAD - em apenas um software.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Inteligência artificial em tomografia computadorizada

    O complemento ZADD no ZEISS INSPECT X-Ray detecta até mesmo defeitos pequenos e difusos de forma confiável, rápida e automática. O ZADD detecta, localiza e classifica esses defeitos ou anomalias enquanto os analisa em detalhes por meio da leitura de tomografias computadorizadas. O complemento de software foi desenvolvido especialmente para aplicações como peças fundidas, peças moldadas por injeção e componentes impressos.

  • ZEISS PiWeb Transforme dados de qualidade em resultados significativos

    ZEISS PiWeb

    Transforme dados de qualidade em resultados significativos

    O software de gerenciamento de dados de qualidade e ZEISS PiWeb reporting ajuda a conectar os resultados de metrologia de diferentes tecnologias de medição às decisões do chão de fábrica - para um rastreamento eficiente da qualidade de sua produção e resultados imediatos. Use o ZEISS PiWeb para realizar estudos de GR&R, controlar o gerenciamento de dados de qualidade, trabalhar com dados manuais, criar estatísticas poderosas e se beneficiar de vários modelos de relatórios padrão prontos para uso.

Recursos do ZEISS METROTOM OS

Soluções de software para exames de TC eficientes 

  • Redução avançada de artefatos de materiais mistos (AMMAR)

    Redução avançada de artefatos de materiais mistos (AMMAR)

    Veja mais detalhes em suas peças na transição do metal para o plástico: O processo de correção AMMAR reduz significativamente os artefatos que ocorrem durante o escaneamento de peças com diferentes materiais e espessuras, especialmente em peças do tipo conector com metal e plástico.

  • Extensão do Detector Horizontal Virtual (VHD)

    Extensão do Detector Horizontal Virtual (VHD)

    Meça peças de trabalho que sejam mais largas do que o detector: O VHD aumenta o diâmetro possível do volume de suas capturas em até 80%. Ele permite o escaneamento de peças significativamente mais largas do que o detector ou permite ao escaneamento de peças menores com tamanhos de voxel menores e, portanto, resoluções mais altas.

  • VolumeMerge

    VolumeMerge

    O sistema de posicionamento excepcionalmente preciso, para o qual aplicamos nosso conhecimento do mundo da medição tátil, aumentou o tamanho dos componentes a serem reconstruídos no sistema para 870 mm de altura. Isso significa que componentes grandes podem ser capturados inteiramente em apenas um processo automatizado, eliminando assim a necessidade de reposicionamento e alinhamento demorados por parte do usuário.

  • ShortScan

    ShortScan

    ShortScan é um modo de escaneamento no qual uma peça só precisa executar um pouco mais da metade de uma rotação em vez de uma rotação completa. Isso permite que você escaneie regiões específicas em peças com maior resolução que, de outra forma, seriam geometricamente limitadas com uma rotação completa.

  • Separação

    Separação

    A separação automática aumenta a produtividade ao escanear vários componentes de uma só vez e avaliá-los automaticamente em separado, reduzindo significativamente o tempo de escaneamento e o esforço de interação do operador.

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