ZEISS scatterControl

Qualidade excepcional de imagem de TC

A solução de hardware para uma qualidade de imagem otimizada

O módulo ZEISS scatterControl melhora significativamente a qualidade da imagem e reduz ao mínimo os artefatos de dispersão das TCs. Essas melhorias facilitam o manuseio subsequente de dados e as etapas de avaliação para peças adequadas, resultando na determinação da superfície e análise de defeitos ainda mais precisas. O produto é ideal para peças de grande volume e densidade, como peças metálicas fabricadas aditivamente e peças fundidas em alumínio, mesmo com incrustações de aço, bem como outros conjuntos que contenham materiais mais densos.

O módulo está disponível para o ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, seja como uma solução de retrofit ou como parte da compra de um novo sistema. Atualize seu sistema com o ZEISS scatterControl agora e se beneficie da qualidade superior de imagem para uma avaliação de dados muito mais fácil.

Melhor qualidade de imagem, melhor detecção de defeitos

O ZEISS scatterControl melhora significativamente a qualidade da imagem de TC, reduzindo a ocorrência de artefatos causados por radiação dispersa. O contraste entre os diferentes componentes é aumentado e a detecção de defeitos é simplificada: Áreas de peças que antes eram quase impossíveis de analisar agora podem ser avaliadas.
Determinação aprimorada da superfície

Não apenas a detecção de defeitos, mas a qualidade geral da determinação da superfície se beneficia do ZEISS scatterControl. Esta é uma vantagem considerável para aplicações de metrologia em peças desafiadoras, em que os artefatos atrapalham o processo de determinação da superfície quando não são corrigidos.
Escaneamento rápido com o modo VAST

O ZEISS scatterControl funciona com os modos de escaneamento “Stop and Go” e VAST. A solução scatterControl oferece qualidade de imagem superior para TC de feixe cônico, comparável à qualidade da TC de feixe em leque, mas com tempos de escaneamento até 1000 vezes mais rápidos.
Fácil de usar

O ZEISS scatterControl é uma solução de um clique. O módulo funciona perfeitamente com outros recursos úteis do METROTOM OS, como VHD (Virtual Horizontal Detector Extension - extensão de detector horizontal virtual), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction - redução de artefatos de material misto avançada) ou VolumeMerge, e é totalmente integrado ao software.

ZEISS scatterControl para uma análise de defeitos melhor

O ZEISS scatterControl melhora significativamente a qualidade de imagem das tomografias computadorizadas para uma variedade de peças e setores. Há razões claras para isso, que vão desde a remoção eficiente de artefatos até o posicionamento do módulo em relação à peça de trabalho, o que torna o ZEISS scatterControl a escolha ideal. Descubra abaixo como você pode usar o módulo para detecção e análise de defeitos excepcionais.

Redução de artefatos para melhorar a qualidade da imagem de TC

O ZEISS scatterControl faz uma clara diferença. Use o elemento do controle deslizante para comparar a qualidade da imagem de raios X que pode ser obtida com e sem o módulo scatterControl. A imagem aprimorada mostra um contraste maior e menos artefatos, fazendo com que os detalhes se destaquem com muito mais clareza.

Qualidade superior devido ao posicionamento do módulo

O ZEISS scatterControl alcança uma qualidade superior em comparação com produtos similares devido ao princípio de funcionamento do módulo: Ele é posicionado entre o tubo e o detector. Objetos menores, como peças densas fabricadas de forma aditiva, podem ser colocados na frente do módulo e objetos maiores atrás. Funciona de ambas as maneiras. Além disso, o sensor de colisão física integrado e o sofisticado software de previsão de colisões evitam as colisões com eficácia.

Ideal para uma variedade de peças e setores

Fundição: Peças maciças de alumínio ou magnésio, mesmo com incrustações de aço
Automotivo: Fundições com incrustações de aço, eletrônica de potência
Manufatura aditiva: Peças densas e estampadas em metal

Inspeção 3D aprimorada

As melhorias nos dados de volume resultam em uma avaliação muito mais fácil. Superfícies 3D podem ser determinadas e renderizadas sem artefatos que causam distração. Muitos artefatos são normalmente resultado da radiação dispersa e causam pseudossuperfícies em 3D que impedem medições precisas.

Software de avaliações confiáveis para inspeção por raios X

O software ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) detecta de forma confiável até mesmo os menores defeitos - para componentes moldados por injeção, médicos, fabricados aditivamente e muito mais.

As peças que mais se beneficiam do ZEISS scatterControl incluem peças maciças de alumínio ou magnésio, peças fundidas com incrustações de aço, componentes eletrônicos de potência, bem como peças densas e estampadas em metal, para citar apenas alguns exemplos.
O ZEISS scatterControl é uma solução de um clique. A proteção contra colisões de software e hardware já está integrada, o que significa que você pode iniciar o processo de escaneamento sem nenhuma etapa adicional.
Sim, o ZEISS scatterControl é uma solução de retrofit ideal para o ZEISS METROTOM 1500 G3. Atualizações, por exemplo, para o METROTOM OS, podem ser necessárias para aprimorar sua TC com o módulo scatterControl.

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A solução de hardware para uma qualidade de imagem otimizada

Como você se beneficia do ZEISS scatterControl

Melhor qualidade de imagem, melhor detecção de defeitos

Determinação aprimorada da superfície

Escaneamento rápido com o modo VAST

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ZEISS scatterControl para uma análise de defeitos melhor

Redução de artefatos para melhorar a qualidade da imagem de TC

Qualidade superior devido ao posicionamento do módulo