
ZEISS Sigma
Acesso a imagens e análises confiáveis de alta resolução
O ZEISS Sigma é baseado na comprovada tecnologia ZEISS Gemini. O design da lente objetiva Gemini combina campos eletrostáticos e magnéticos para maximizar o desempenho óptico e, ao mesmo tempo, reduzir ao mínimo as influências de campo na amostra. Isso permite uma excelente geração de imagens, mesmo em amostras desafiadoras, como materiais magnéticos.
ZEISS Sigma para a indústria
Experimente um novo nível de qualidade ao testar suas amostras

O conceito de detecção na lente Gemini garante a detecção eficiente do sinal por meio da detecção de elétrons secundários (SE) e/ou retroespalhados (BSE), minimizando, assim, o tempo até a imagem. A tecnologia de reforço de feixe Gemini garante apalpadores de tamanho reduzido e relações sinal-ruído altas.
Você pode caracterizar todas as suas amostras com a mais recente tecnologia de detecção. Colete informações topográficas de alta resolução com o novo detector ETSE e o detector InLens no modo de alto vácuo. Obtenha imagens nítidas no modo de pressão variável com o VPSE ou o detector C2D. Produza imagens de transmissão de alta resolução com o detector STEM. E investigue a composição com o HDBSD ou o detector YAG.

Visão geral dos campos de aplicação
- Análise de falhas de materiais e componentes fabricados
- Imagens e análises de aços e metais
- Inspeção de dispositivos médicos
- Caracterização de dispositivos semicondutores e eletrônicos no controle e diagnóstico de processos
- Aquisição de imagens de alta resolução e análise de nanomateriais inovadores
- Análise de revestimentos e películas finas
- Caracterização de várias formas de carbono e outros materiais 2D
- Imagem, análise e diferenciação de materiais poliméricos
- Realização de pesquisas sobre baterias para entender os efeitos do envelhecimento e melhorias na qualidade

ZEISS SmartPI
O ZEISS SmartPI foi projetado para análises repetíveis e de alto volume de amostras de rotina em um ambiente de produção. A capacidade de identificar, analisar e relatar dados de contaminação agrega uma nova dimensão ao controle de processos. Beneficie-se de melhorias significativas na análise e classificação de partículas SEM totalmente automatizadas. Deixe que o ZEISS SmartPI aumente sua produtividade, melhore sua qualidade e reduza seus custos com contaminação. Ele detecta, mede, conta e classifica automaticamente as partículas de interesse com base na morfologia e na composição elementar.
Os relatórios padrão do setor são gerados automaticamente, como o VDA 19.1 e ISO 16232
Totalmente integrado e compatível com os sistemas de EDS Bruker e Oxford