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SEM convencional de nível básico

ZEISS EVO

O microscópio eletrônico multifuncional que combina qualidade de dados com operação intuitiva

Os instrumentos da família ZEISS EVO combinam microscopia eletrônica de escaneamento de alto desempenho com uma experiência intuitiva e fácil de usar que agrada tanto a especialistas quanto a novos usuários. Com sua ampla gama de opções disponíveis, o ZEISS EVO pode ser adaptado precisamente às suas necessidades, independentemente de você atuar em ciências dos materiais ou na garantia de qualidade industrial de rotina e na análise de falhas.

  • Uma solução multiuso versátil
  • A melhor usabilidade da categoria
  • Excelente qualidade de imagem
  • Automação do fluxo de trabalho e integridade dos dados
ZEISS EVO
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ZEISS EVO para a indústria

Leve sua inspeção ao próximo nível.

O ZEISS EVO é o sistema convencional de nível básico, com um filamento à base de tungstênio ou LaB6, para tarefas diárias de geração de imagens repetíveis, por exemplo, análise de materiais de alta resolução, com fluxos de trabalho amplamente automatizados e de apoio. O sistema oferece flexibilidade para tamanhos de estrutura menos exigentes.

Áreas de aplicação

  • Análise e controle de qualidade
  • Análise de falhas e fractografia
  • Materialografia
  • Inspeção de limpeza
  • Análise morfológica e química de partículas para atender às normas ISO 16232 e VDA 19 Parte 1 e 2
  • Análise de inclusões não metálicas 

ZEISS EVO: O microscópio eletrônico multifuncional que combina qualidade de dados com operação intuitiva

Leve sua inspeção ao próximo nível. O ZEISS EVO oferece um menu de opções de configuração para atender exatamente às suas necessidades de preço e desempenho. Combine a resolução desejada com sua aplicação e escolha entre três tamanhos de câmara.

Você também pode optar por alto vácuo, pressão variável ou pressão ambiente para se adequar ao seu tipo de amostra. Em seguida, você escolhe entre os detectores SE, BSE, EDX, VP e C2D para se adequar à sua aplicação. Com o ZEISS EVO, você aproveita os benefícios da microscopia eletrônica a um preço acessível.

Exemplos de aplicação

  • Eletrônicos

    Os detritos e a contaminação são evidentes na superfície de um circuito integrado. Imagens obtidas com o detector SE em alto vácuo a 10 kV.

  • Células de combustível

    Em geral, as células de combustível consistem em membranas de eletrólito de polímero colocadas entre eletrodos de platina. As imagens desses componentes essenciais precisam ser capturadas em baixas tensões para garantir que as informações sobre os detalhes da superfície sejam obtidas em alta resolução. Seção transversal com uma fonte de LaB6 (esquerda) e uma fonte de tungstênio (direita) a 3 kV. A fonte LaB6 fornece mais detalhes da superfície em baixas tensões de aceleração.

  • Aço macio galvanizado

    Imagem de seção transversal de aço macio galvanizado, capturada usando o detector SE no ZEISS EVO 15. Esquerda: resina de montagem; meio: camada de zinco; direita: aço macio.

  • Análise de material usando espectroscopia de raios X (EDX)

    Imagens BSE de superfícies corroídas representativas com mapa EDS: cromo, chumbo, cobre, níquel, carbono e oxigênio.

  • Análise de falhas na superfície de um rolamento de esferas

    A imagem da superfície do rolamento de esferas capturada com o detector de BSE revela rachaduras e descamação da estrutura da superfície.

  • Limpeza técnica

    Partículas de um filtro de partículas: análise técnica de limpeza e controle de qualidade.

Microscópio eletrônico de escaneamento ZEISS EVO - 10 destaques em 90 segundos

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    Saiba como o microscópio eletrônico de escaneamento ZEISS EVO apoia suas tarefas de inspeção de rotina e análise de falhas em laboratórios de qualidade e de materiais, permitindo a captura de imagens intuitivas até mesmo para usuários novatos. Destaques do EVO: - Aquisição de imagens de alta resolução - Operação eficiente - Análise de composição química - Peças grandes - Aquisição de imagens em grandes áreas - Amostras não condutoras - Análise de partículas EDX - Medições automatizadas - Segmentação inteligente de imagens - Correlação e compartilhamento de imagens

Outras aplicações para o setor:

  • Análise de fases, partículas e soldas
  • Inspeção visual de componentes eletrônicos, circuitos integrados, dispositivos MEMS e células solares
  • Investigação da estrutura cristalina e da superfície do fio de cobre
  • Investigação de corrosão de metais
  • Análise de fases intermetálicas e transições de fase
  • Aquisição de imagens e análise de microfissuras, além de resistência à fratura
  • Investigações sobre revestimentos e materiais compostos
  • Exame de cordões de solda e zonas afetadas pelo calor

Com a ZEISS EVO, encontramos a agulha no palheiro.

Johannes Bachmann, é o especialista em análise de materiais do Grupo INNIO. Baixe o folheto e leia a história completa.

Encontrar a agulha no palheiro.

Limpeza técnica: O INNIO Group analisa a composição química das partículas de sujeira residual usando uma solução da ZEISS.

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Resultados precisos e confiáveis são importantes, é claro, mas também é importante obtê-los rapidamente,

diz Thomas Schaupp, gerente de laboratório no laboratório SPC para materiais certificados. Descubra como o ZEISS EVO e a microscopia correlativa da ZEISS ajudam o laboratório de testes a obter resultados 30% mais rápidos. Baixe o folheto e leia a história completa.

Aplicativos de microscopia para garantia de qualidade:

Exemplos de clientes e folhetos do setor para o setor
  • Pré-visualizar imagem de ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    16 MB
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  • Pré-visualizar imagem de ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    17 MB
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  • Pré-visualizar imagem de ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF

    ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF

    22 MB
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